Ao final do curso o aluno deverá ter adquirido as seguintes competências específicas (C) sobre o uso de métodos de difração de raios-x em laboratório e com luz sincrotron, assim como de difração de nêutrons na caracterização de materiais aplicados em engenharia:
C1. Compreender e aplicar a teoria de difração de raios-x em laboratório e com luz sincrotron, assim como a difração de nêutrons;
C2. Adquirir conhecimentos sobre a difração de raios-x e de nêutrons para a caracterização microestrutural quantitativa e a análise de tensões residuais e textura cristalográfica nos materiais cristalinos e semi-cristalinos de engenharia, de modo a possibilitar ao aluno a execução e a
aplicação dos métodos de análise de maneira autônoma.
C3. Adquirir conhecimentos sobre o método de refinamento Rietveld aplicado a materiais de engenharia.
Para alcançar as competências (C) listadas acima, o aluno deverá desenvolver
as seguintes habilidades (H):
H1. Estudar a teoria de difração de raios-x em laboratório e com luz sincrotron, assim como a difração de nêutrons;H2. Estudar os métodos de caracterização de materiais de engenharia, usando a difração de raios-x em laboratório e com luz sincrotron, e a difração de nêutrons.
H3. Utilizar amostras, peças e componentes de engenharia para a caracterização microestrutural quantitativa, bem como para a análise de tensões residuais e de textura cristalográfica usando a difração de raios-x em laboratório.
H4. Desenvolver habilidades de pesquisa para investigar e resolver problemas em engenharia de materiais usando métodos de difração de raios-X e nêutrons.
- Docente: Haroldo Cavalcanti Pinto