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Capacitar os participantes para utilizar a difratometria de raios X, método do pó, na solução de problemas práticos de identificação e quantificação de fases em materiais naturais e sintéticos.
Apresentar os princípios do método de Rietveld de quantitificação por modelagem numérica de difratogramas
- Docente: Fabio Ramos Dias de Andrade
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