Opções de inscrição
Capacitar os participantes para utilizar a difratometria de raios X, método do pó, na solução de problemas práticos de identificação e quantificação de fases em materiais naturais e sintéticos.
Apresentar os princípios do método de Rietveld de quantitificação por modelagem numérica de difratogramas
- Docente: Fabio Ramos Dias de Andrade
Visitantes não podem acessar este curso. Por favor faça login.