1) Conceitos básicos de cristalografia. 2) Conceitos básicos de difração. 3) Ténicas de caracterização química e estrutural (micro e nano) por difração (raios X, radiação sincrotron, elétrons, nêutrons). 4) Técnicas de caracterização de superfícies e de manipulação em escala atômica (Atomic Force Microscopy - AFM e Scanning Tunneling Microscopy - STM)
- Docente: Ivette Frida Cymbaum Oppenheim