Ensinar o papel básico da cristalografia e da difração para a caracterização da estrutura atômica e da microestrutura de sólidos cristalinos e, também, para o desenvolvimento de novos materiais. Conceitos de simetria são utilizados para descrever a geometria da estrutura cristalina dos sólidos. Fundamentos físicos e geométricos do fenômeno de difração são apresentados e a instrumentação relevante para as técnicas de caracterização são consideradas. Damos atenção particular à difratometria de raios-X, mas outras técnicas de caracterização também são abordadas.

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